电子工业出版社

SMT单板互连可靠性与典型失效场景

作译者：贾忠中,张华,赵宗启
出版时间：2024-08
字数：458
页数：288
版次：01-01
开本：16开开
印次：01-01
ISBN：9787121486371
所属分类：科技,电子技术,电子工艺与电子制造,
定价：168.0

内容简介:
本书是作者从事电子制造40年来有关单板互连可靠性方面的经验总结,讨论了单板常见的失效模式、典型失效场景以及如何设计与制造高可靠性产品的广泛问题，并通过大量篇幅重点讨论了焊点的断裂失效现象及裂纹特征。全书内容共4个部分，第一部分为焊点失效机理与裂纹特征，详细介绍焊点的失效模式、失效机理、裂纹特征及失效分析方法;第二部分为高可靠性产品的焊点设计，包括封装选型、PCBA的互连结构设计、组装热设计及焊点的寿命评估技术;第三部分为环境腐蚀与三防处理，重点介绍腐蚀失效与锡须问题，以及与之相关的清洗和三防工艺;第四部分为高可靠性产品的制造，重点介绍组装工艺控制要点与典型缺陷焊点。本书可供从手电子制造、可靠性、失效分析工作的工程师学习与参考。