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著 者:
作 译 者:刘斌
出版时间:2023-01 千 字 数:384 版 次:01-01 页 数:240
开 本:16开 装 帧: I S B N :9787121448454
换 版:
纸质书定价:¥69.0
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资深芯片验证专家刘斌(路桑)围绕目前芯片功能验证的主流方法—动态仿真面临的日常问题展开分析和讨论。根据验证工程师在仿真工作中容易遇到的技术疑难点,本书内容在逻辑上分为 SystemVerilog疑难点、UVM 疑难点和 Testbench 疑难点三部分。作者精心收集了上百个问题,给出翔实的参考用例,指导读者解决实际问题。在这本实践性很强的书中,作者期望能够将作者与诸多工程师基于常见问题的交流进行总结,以易读易用的组织结构呈现给读者,目的是帮助芯片验证工程师更有效地处理技术疑难点,加快芯片验证的调试过程。
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