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电子元器件失效分析技术  

著        者:

作  译  者:恩云飞,来萍,李少平

出版时间:2015-11 千 字 数:618 版     次:01-01 页 数:476

开       本:16开 装      帧: I S B N :9787121272301

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纸质书定价:¥98.0

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本书是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导开展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。

  
 

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