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著 者：（美）Edward Petersen（E. 彼得森 ）
作 译 者：韩郑生 等
出版时间：2016-03 千 字 数：505 版 次：01-01 页 数：316
开 本：16开 装 帧： I S B N ：9787121281976
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纸质书定价：￥79.0
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本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应，器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法，及其空间应用时的错误概率计算。全书共17章，第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识；第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法；第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应；第7章、第8章、第11章至第17章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估；第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。
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